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導(dǎo)熱硅膠片耐高溫老化性能測試方法

更新時間:2023-07-07

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導(dǎo)熱硅膠片耐高溫老化性能測試方法:


目的:

老化,是指產(chǎn)品或者零部件受到光,溫度等不同條件的輻射或影響下所產(chǎn)生的外觀或者是產(chǎn)品性能的改變。

測試條件:溫度26℃,濕度42%RH下進行。

判斷尺度:

1、重量損失小于1%;

2、高溫后全部化學(xué)物理性能穩(wěn)定。

3、選取10個試樣,在35 ℃的干燥箱內(nèi)放置80--100h;

4、將試樣放入200℃的烘箱內(nèi)連續(xù)烘干200h;

5、取出試樣置放于35 ℃的干燥箱內(nèi)80--100h;

6、分別準確稱量10個試樣的重量G1;

7、再次分別準確稱量10個試樣的重量G2;

8、盤算重量損失:(G1-G2)/G1×100%。

測試方法:

1、測試導(dǎo)熱硅膠片初始參數(shù):導(dǎo)熱系數(shù)、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等;

2、快速溫度反復(fù)沖擊:將所測試導(dǎo)熱硅膠片在低溫-40℃時保持30分鐘,并快速將溫度上升到120℃并保持30分鐘,如此連續(xù)沖擊500個循環(huán);

3、取出導(dǎo)熱硅膠片,在室溫環(huán)境下放置30分鐘,測試沖擊后導(dǎo)熱硅膠片的各參數(shù):導(dǎo)熱系數(shù)、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等,與初始參數(shù)值作出量化對比與分析;

4、根據(jù)量化對比與分析,推斷出該導(dǎo)熱硅膠片的使用壽命年限。


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